关键词：浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数券商杠杆，半导体
系统组成：HEM-200 高低温霍尔效应测试系统本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、矩阵卡、霍尔效应样品支架、标准样品、系统软件组成。本套系统测试应用的是最新的KEITHLEY 进口测试源表，配合配套的低延迟宽带宽的矩阵卡，极大提高了样品的供电电流和测试样品的霍尔电压的量程和精度，宽电流供电和宽电压测试范围可以覆盖市面上绝大多数的半导体器件。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度 (Sheet Carrier Concentration)、迁移率 (Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻 (Magnetoresistance)等等。
展开剩余36%系统参数:
我们可提供各类霍尔效应测试系统用于教学和研究
可测试材料:
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